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Messen / Events
 
30. April 2012

JUKI’s High-Speed Sentry System gewinnt mit dem EM Asia Innovation Award eine dreifache Auszeichnung

Juki  Automation Systems gibt bekannt, den EM Asia Innovation Award 2012 in der Kategorie “Pick-and-Place Systeme – High-Speed” für ihr Sentry System erhalten zu haben. Die Auszeichnung wurde dem Unternehmen anlässlich einer Zeremonie am 26. April 2012 während der NEPCON China in Shanghai überreicht.

Sales Manager Steve Nadeau von JUKI Amerika kommentierte diese Leistung folgendermassen: „Das Sentry System ist eine komplett in den Bestückungsprozess eingebaute Inspektion. Es ermöglicht von Anfang an eine nachhaltig korrekte Produktherstellung. Sowohl JUKI als auch CyberOptics freuen sich sehr, dieses neue System auf den Markt zu bringen und wir erwarten in den kommenden Jahren eine ausgedehnte Anwendung.“

Mit der Einführung von Sentry integrierte JUKI die Prozessüberwachung in den Bestückungsablauf. Das Sentry System wurde in Zusammenarbeit mit CyberOptics Corporation entwickelt und ist somit das erste System, welches das Reflow falsch bestückter Leiterplatten verhindert. Die Boards werden mit Hilfe innovativer Sensoren bei jedem Schritt des Bestückprozesses überwacht. Dies erlaubt es nur korrekt bestückten Leiterplatten in den Reflow Ofen weitergeleitet zu werden. Das System beeinträchtigt die Geschwindigkeit der Produktionslinie in keiner Weise. Werden fehlerhaft bestückte Boards gefunden, werden sie in einen Zwischenspeicher geleitet und die Linie produziert weiter. Zusätzlich fällt das System „No-Go“ Entscheidungen, was zur Folge hat, dass keine Falschmeldungen mehr gemacht werden und somit der Durchsatz stark erhöht wird. Das Ergebnis ist ein hundertprozentiger Erstgewinn.

Das Sentry bietet innovative Sensoren, die jeden Schritt der Bestückung überwachen. Der Embedded Process Verification (EPV) Palcement Monitor besteht aus einer Reihe von Mikrokameras mit Strobo LEDs. Die Kameras zeichnen jeweils fünf Aufnahmen von jeder Pick-and-Place Sequenz auf. Dies ermöglicht eine Fehlerursachenanalyse und erlaubt den Ingenieuren eine schnelle Diagnose jedes Bestückungsproblems. Der Strobing Imaging Module (SIM) Qualitätsmonitor fotografiert die Leiterplatten aufgeteilt in Segmenten und kombiniert sie alsdann zu einem Bild. Diese Sensoren zusammen mit einem integrierten Softwarepaket machen das Sentry zum stärksten erhältlichen Hilfsmittel in der Leiterplattenbestückung.



 
 
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